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适配芯片可靠性测试!海银225L两箱式高低温冲击试验箱水冷款调试完工
适配芯片可靠性测试!海银225L两箱式高低温冲击试验箱水冷款调试完工近日,海银自研智造的225L两箱式高低温冲击试验箱完成全项性能调试、精度校准与稳定性检测,设备各项技术参数全部达标,整机运行状态稳定,现已整装完毕、待序发货。该设备针对性适配电子芯片行业测试需求,搭载15P工业冷水机水冷散热系统,依托-55℃~150℃宽域温度冲击能力,可为芯片、半导体元器件提供高精度环境可靠性检测方案。随着半导体[详情]
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