适配芯片可靠性测试！海银225L两箱式高低温冲击试验箱水冷款调试完工

适配芯片可靠性测试！海银225L两箱式高低温冲击试验箱水冷款调试完工

近日，海银自研智造的225L两箱式高低温冲击试验箱完成全项性能调试、精度校准与稳定性检测，设备各项技术参数全部达标，整机运行状态稳定，现已整装完毕、待序发货。该设备针对性适配电子芯片行业测试需求，搭载15P工业冷水机水冷散热系统，依托-55℃~150℃宽域温度冲击能力，可为芯片、半导体元器件提供高精度环境可靠性检测方案。

随着半导体、电子芯片行业快速发展，芯片产品对高低温骤变环境的耐受性能要求愈发严苛，精准的温度冲击测试是保障芯片品质与使用寿命的核心环节。本次完工的两箱式试验箱专为芯片测试场景优化设计，采用独立高温、低温双箱体结构，通过机械精准切换实现试样快速冷热冲击，杜绝冷热气流串扰，有效提升测试数据的精准度，契合芯片行业严苛的检测标准。

设备额定容积225L，可批量放置各类芯片晶圆、封装芯片、微型电子元器件等试样，兼顾单样精准测试与多样批量检测需求，适配芯片研发、量产质检、型式试验等全场景。设备温控区间覆盖-55℃至150℃，可**模拟芯片生产、运输、使用过程中的极端高低温温差工况，精准验证芯片的结构稳定性、电气性能耐受性。

散热方面，设备标配15P专用冷水机，采用闭环水冷散热方式，对比传统风冷设备，散热效率更高、温度波动极小，能够支撑设备长时间不间断高频次冲击测试，彻底解决芯片连续测试中设备升温、温控失准的问题。同时水冷结构运行噪音低、能耗稳定，设备保温密封性能优异，有效降低能量损耗，适配企业规模化芯片检测作业。